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上海时时彩票网站:德國菲希爾X射線熒光分析儀XDLM237和XDAL237SDD主要性能對比

体彩快3开奖结果 www.rsbfw.com 德國菲希爾X射線熒光分析儀XDLM237和XDAL237SDD主要性能對比

  菲希爾公司FISCHER品牌的x-ray鍍層厚度檢測及材料分析儀是業內的標桿產品,在全球有著廣泛的客戶和良好的聲譽。FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237 X射線鍍層厚度測試儀及材料分析儀采用手動或自動方式,測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 237 SDD X射線鍍層厚度測試儀及材料分析RoHs檢測儀,配備可編程運行XY工作臺及Z軸升降系統,全自動測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。兩者主要電器參數對比如下表:

機型                      Model

FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237

X射線鍍層厚度測試儀及材料分析儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 237 SDD

X射線鍍層厚度測試儀及材料分析RoHs檢測儀

備注                                                    Remark

測量元素范圍       Element Range

Cl17-U92

Al13-U92

XDAL237 SDD的測量元素范圍更大,可以測P磷等元素

分析軟件                Software

WinFTM(V6 LIGHT)                                    可*多同時測量4層鍍層,5種元素,在選配BASIC時可測23層鍍層,24種元素                                                    

WinFTM(V6 BASIC)                                           可*多同時測量23層鍍層,24種元素                                    

XDLM237的主要應用為鍍層厚度的測量,XDAL237SDD不但在測厚方面更具優勢,可測量納米級鍍層;并且可以做精-確的材料分析以及RoHs痕量分析。XDAL237 SDD 標配 Basic版軟件

X射線發生裝置               X-Ray Tube

W靶微聚焦射線管                                              

W靶微聚焦射線管                                                

高壓                High voltage

三種可調高壓:30 kV,40 kV,50 kV                             

三種可調高壓:10 kV,30 kV,50 kV                         

10kV的電壓可用于測量能量更低的元素(例如:P磷等)

準直器              Aperture (Collimator)

4個可切換準直器(?0.1/?0.2/0.05x0.05/0.2x0.03mm                                             

4個可切換準直器(?0.1/?0.3/?0.6/?0.5*0.15mm)                   

XDAL237配備了更大的0.6mm準直器,使得測量大樣品和RoHS的應用時,大大提高精度。

測量點大小   Measurement spot size

? 0.1 mm                                          

? 0.15 mm                                         

X射線接收器              X-ray detector

比例接收器  FWHM900eV                                       

硅漂移SDD半導體探測器 FWHM160eV                      

XDAL237 SDD配備*先進的SDD硅漂移接收器,有更高的能量分辨率。頻譜上相鄰元素之間干擾更小,精度更高。并且可進行痕量分析(可滿足RoHS的應用)。

濾波片                Primary filter

3 種可切換濾片 (//無)                                           

3 種可切換濾片 (//無)                                          

放大倍數                   Zoom factor

40X-160X

40X-160X

樣品臺尺寸               Usable sample placement area

300 × 350 mm

300 × 350 mm

移動方式                  Travel Mode

電動可編程                                              

電動可編程                                              

可移動范圍                  Maximum travel XY

255*235mm

255*235mm

Z                     Z-axis

可編程運行                                              Programmable

可編程運行                                              Programmable

隨機元素片                Pure Element

12純元素片:(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr)         12 Pure Element

14純元素片:(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr,Ti,S) 14 Pure Element

以上
德國菲希爾X射線熒光分析儀XDLM237和XDAL237SDD主要性能對比表中紅色字體為差異體現。XDLM237機型雖然在性能上與XDAL237SDD有不及的地方,但因其相對低廉的價格和同樣不俗的性能使得XDLM237成為菲希爾x射線材料厚度分析儀中的主流暢銷機型。

其他檢測儀器:超聲高溫耦合劑、鐵素體含量檢測儀。

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